Revealer NEO 25M/C — это передовое многотехнологичное решение для сверхвысокоскоростной съемки, разработанное для экстремальных условий. Оснащенная инновационным обратно-засвеченным (BSI) сенсором, камера максимизирует захват фотонов, обеспечивая мгновенную регистрацию изображений с ультракороткой выдержкой. Это идеальный инструмент для научных исследований в области экстремальной механики, анализа ударных воздействий, высокочастотных вибраций, гиперзвуковой аэродинамики и диагностики процессов горения.
Высокоскоростная камера сверхвысокой чувствительности Revealer NEO 25M/C (25 000 кадров/с)
Revealer NEO 25M/C — это передовое многотехнологичное решение для сверхвысокоскоростной съемки, разработанное для экстремальных условий. Оснащенная инновационным обратно-засвеченным (BSI) сенсором, камера максимизирует захват фотонов, обеспечивая мгновенную регистрацию изображений с ультракороткой выдержкой. Это идеальный инструмент для научных исследований в области экстремальной механики, анализа ударных воздействий, высокочастотных вибраций, гиперзвуковой аэродинамики и диагностики процессов горения.
Сочетая скорость 25 000 кадров/с при полном разрешении и квантовую эффективность 85%, камера NEO 25M/C превращает микросекунды в детализированные последовательности данных, устанавливая новый инженерный стандарт в области высокоскоростной визуализации.
Высокоскоростная камера сверхвысокой чувствительности Revealer NEO 25M/C
Ключевые преимущества
- Большие пиксели 20 мкм и BSI-сенсор с 85% QE для четкой съемки в условиях низкой освещенности (~10 люкс) без мощного дополнительного света.
- Экстремальная скорость: 25 000 кадров/с при полном разрешении 1280×1024 (до 1 000 000 кадров/с в режиме ROI).
- Мгновенный сброс данных: 160 ГБ высокоскоростной RAM + до 15 ТБ флэш-памяти HyperStor (64 изолированных раздела) для непрерывной работы.
- Широкий спектральный отклик (200–1100 нм): охват УФ (~60% QE), видимого (~85% QE) и ближнего ИК-диапазона (~40% QE).
- Идеальна для УФ-диагностики: визуализация радикалов OH*, флуоресценции NO и лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии (LIBS) без внешних усилителей изображения.
- Соответствие строгим стандартам надежности и защиты (IP64, устойчивость к вибрациям и ударным нагрузкам).
Передовые технологии визуализации
Специализированные области применения
Сравнение: Почему NEO 25M/C доминирует в экстремальных научных задачах
Сравнение характеристик
Преимущества для лаборатории
Гибкость контроля: 3 режима съемки
Полное разрешение:
Максимальная детализация 1280×1024 (1.3 Мп) при скорости 25 000 кадров/с. Идеально для получения полной картины быстропротекающих процессов без вертикального кадрирования.
Режим BOOST:
Увеличение скорости съемки до 48 000 кадров/с за счет оптимизации считывания данных, когда критически важна максимальная частота дискретизации во времени.
Режим ROI (Область интереса):
Экстремальная скорость до 1 000 000 кадров/с при считывании только выбранной прямоугольной области сенсора. Незаменим для изучения сверхбыстрых локальных явлений, таких как зарождение трещин или микровзрывы.
Программное обеспечение и управление
Интуитивное управление и анализ данных
Программная экосистема для управления и анализа
Камера поставляется с профессиональным программным обеспечением, предназначенным для повышения эффективности рабочего процесса и получения точных данных. Операторы могут настраивать параметры триггера, экспозиции и области интереса (ROI) в реальном времени.
Поддержка стандартных протоколов синхронизации (TTL, IRIG-B) и интерфейсов передачи данных (10 Gb Ethernet, SDI/HDMI) обеспечивает бесшовную интеграцию с существующими лабораторными установками, системами PIV (Velocimetry) и DIC (Digital Image Correlation).
Лабораторные исследования и кейсы применения
Динамика сварочных процессов и аддитивных технологий
Высокоскоростная визуализация переходных процессов при дуговой сварке и лазерной сварке с глубоким проплавлением. Анализ динамики капель и поведения сварочной ванны с микросекундным разрешением.
Аэрокосмическая отрасль и гиперзвуковая аэродинамика
Применение в аэродинамических трубах для визуализации ударных волн, процессов разделения ступеней ракет и исследования динамики потоков с использованием методов PIV и теневой фотографии (Schlieren).
Механика материалов и ударные испытания
Использование в сочетании с системами цифровой корреляции изображений (DIC) для бесконтактного измерения полей деформаций и напряжений при динамическом растяжении, ударе по Шарпи (SHPB) и распространении трещин.
Технические характеристики
Основные параметры
Интерфейсы и управление
Память и габариты
Надежность и стандарты
Дополнительные материалы для загрузки
- Комментарии